BS EN 62374-2008 半导体装置.依赖时间的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
作者:标准资料网 时间:2024-05-10 00:17:24 浏览:9580
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Timedependentdielectricbreakdown(TDDB)testforgatedielectricfilms
【原文标准名称】:半导体装置.依赖时间的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
【标准号】:BSEN62374-2008
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2008-10-31
【实施或试行日期】:2008-10-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:击穿;检验设备;组件;定义;介质;电气工程;电子设备及元件;外壳;故障;大门;热室;寿命;测量技术;半导体器件;应力;测试;测试装置;依赖时间的;电压;电压应力
【英文主题词】:Breakdown;Checkingequipment;Components;Definition;Definitions;Dielectric;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Failure;Gates;Heatingchamber;Life(durability);Measuringtechniques;Semiconductordevices;Stress;Testing;Testingdevices;Time-dependent;Voltage;Voltagestress
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 微电路模块总规范 |
| 英文名称： | Generic specification for microcircuit modules |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
微电路综合 |
| ICS分类： |
电子学 >>
集成电路、微电子学
|
| 替代情况： | 作废; |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1995-01-06 |
| 实施日期： | 1995-08-01 |
| 首发日期： | 1995-01-06 |
| 作废日期： | 2005-10-14 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 上海无线电七厂 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-08-10 |
| 页数： | 平装16开， 页数：9， 字数：14千字 |
| 书号： | 155066.1-11569 |
适用范围
本标准规定了微电路模块的技术要求和质量评定程序。本标准适用于模块的研制、生产和采购。
前言
没有内容
目录
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引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学
【英文标准名称】:StandardTestMethodforThermalConductivityofRefractoriesbyHotWire(PlatinumResistanceThermometerTechnique)
【原文标准名称】:用热丝(铂阻尼式温度计技术)测定耐火制品的导热性的试验方法
【标准号】:ASTMC1113-1999(2004)
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:C08.02
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:阻尼式温度计;耐火材料;测试方法;导热性
【英文主题词】:hotwire;refractories;thermalconductivity
【摘要】:Thek-valuesdeterminedatoneormoretemperaturescanbeusedforrankingproductsinrelativeorderoftheirthermalconductivities.Estimatesofheatflow,interfacetemperatures,andcoldfacetemperaturesofsingle,andmulti-componentliningscanbecalculatedusingk-valuesobtainedoverawidetemperaturerange.Thek-valuesdeterminedarex201C;attemperaturex201D;measurementsratherthanx201C;meantemperaturex201D;measurements.Thus,awiderangeoftemperaturescanbemeasured,andtheresultsarenotaveragedoverthelargethermalgradientinherentinwater-cooledcalorimeters.Thek-valuesmeasuredarethecombinationofthek-valuesforthewidthandthicknessofthesample,astheheatflowfromthehotwireisinbothofthosedirections.Thewater-cooledcalorimetermeasuresk-valueinonedirection,throughthesamplethickness.Thetestmethodusedshouldbespecifiedwhenreportingk-values,astheresultsobtainedmayvarywiththetypeoftestmethodthatisused.Dataobtainedbythehotwiremethodaretypically10to30%higherthandataobtainedbythewatercalorimetermethodgiveninTestMethodC201.1.1Thistestmethodcoversthedeterminationofthermalconductivityofnon-carbonacious,dielectricrefractories.1.2Applicablerefractoriesincluderefractorybrick,refractorycastables,plasticrefractories,rammingmixes,powderedmaterials,granularmaterials,andrefractoryfibers.1.3Thermalconductivityk-valuescanbedeterminedfromroomtemperatureto1500176;C(2732176;F),orthemaximumservicelimitoftherefractory,ortothetemperatureatwhichtherefractoryisnolongerdielectric.1.4Thistestmethodisapplicabletorefractorieswithk-valueslessthan15W/mK(100Btuin./hft2F).1.5Ingeneralitisdifficulttomakeaccuratemeasurementsofanisotropicmaterials,particularlythosecontainingfibers,andtheuseofthistestmethodforsuchmaterialsshouldbeagreedbetweenthepartiesconcerned.1.6ThevaluesstatedinSIunitsaretoberegardedasstandard.Thisstandarddoesnotpurporttoaddressthesafetyconcerns,ifany,associatedwithit'suse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:Q40
【国际标准分类号】:81_080
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:
