JIS C7021-1977 半导体分立器件的环境和耐久性试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-04 16:56:40 浏览:8358 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Environmentaltestingmethodsandendurancetestingmethodsfordiscretesemiconductordevices
【原文标准名称】:半导体分立器件的环境和耐久性试验方法
【标准号】:JISC7021-1977
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境试验;半导体器件;耐久试验;试验;半导体二极管;半导体
【英文主题词】:semiconductordevices;semiconductors;semiconductordiodes;environmentaltesting;endurancetesting;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:50P;A4
【正文语种】:日语

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